[プレスリリース] [学術論文] [学会発表] 


    プレスリリース

      新しい生体用二次イオン質量分析法を開発(たんぱく質分子イオンを解離させずに検出に成功)
      [資料], 1月26日 (2009)


    学術論文(2000年~)

    1. Heat Treatment of Graphite Defects Produced by Irradiation with Ar Cluster Ions
      M. Tsukuda, Y. Yokodera, K. Moritani, N. Inui, K. Mochiji
      e-Journal of Surface Science and Nanotechnology, Vol. 10, 88-91, 2012.

    2. ガラスキャピラリーを用いたアルゴンクラスターイオンビームの集束
      正司和大, 井内健輔, 出水元基, 盛谷浩右, 乾徳夫, 持地広造
      真空, Vol. 55, No.3, 118-120, 2012.

    3. Highly sensitive analysis for surface contaminants by Ar gas cluster SIMS
      Kousuke Moritani, Motohiro Tanaka, Norio Inui, Kozo Mochiji
      Surf. Interface Anal., 2012, in press.

    4. Trapping of a Conducting Nanoparticle by Long-Range Surface Forces
      N. Inui, K. Mochiji and K. Moritani
      e-Journal of Surface Science and Nanotechnology, Vol. 9, 301-305, 2011.

    5. Enhancement of Intact-Ion Yield and Surface Sensitivity by Argon-cluster SIMS
      Kozo Mochiji
      J. Anal. Bioanal. Techniques, 2011.

    6. Soft-sputtering of insulin films in argon-cluster secondary ion mass spectrometry
      Shohei Oshima, Ippei Kashihara, Kousuke Moritani, Norio Inui, Kozo Mochiji
      Rapid Commun. Mass Spectrom., Volume 25, Issue 8, pages 1070-1074, 30 April 2011.

    7. New Design and Development of Size-Selected Gas Cluster SIMS
      Kousuke Moritani, Michihiro Hashinokuchi, Gen Mukai, Kozo Mochiji
      Electrical Engineering in Japan (English translation of Denki Gakkai Ronbunshi), Volume 176, Issue 3, pages 52-58, August 2011.

    8. Evaluation of immobilized-polypeptides with different C-terminal residues using argon gas-cluster secondary ion mass spectrometry (GC-SIMS)
      S. Aoyagi, K. Moritani, K. Mochiji
      Surf. Interface Anal.,Volume 43, Issue 1-2, pages 344-349, January - February 2011

    9. Energy dependent fragmentation of polystyrene molecule using size-selected Ar gas cluster ion beam projectile
      K. Moritani, G. Mukai, M. Hashinokuchi, K. Mochiji
      Surf. Interface Anal.,Volume 43, Issue 1-2, pages 241-244, January - February 2011.

    10. Fragment distribution of polystyrene by QMD method using the model hexamer
      K. Hayashi, K. Moritani, N. Inui, K. Mochiji, K. Endo
      J. Surf. Anal. accepted (2010).

    11. Evaluation of immobilized-polypeptides with different C-terminal residues using argon gas-cluster secondary ion mass spectrometry (GC-SIMS)
      S. Aoyagi, K. Moritani, K. Mochiji.
      Surf. Interface Anal., accepted. (2010).

    12. Energy dependent fragmentation of polystyrene molecule using size-selected Ar gas cluster ion beam projectile
      K. Moritani, G. Mukai, M. Hashinokuchi, K. Mochiji.
      Surf. Interface Anal., accepted. (2010).

    13. Dependence of the Casimir Energy on the Thickness of the Dielectric Layer between Perfectly Conductive Dielectric-Coated Plates
      N. Inui
      J. Phys. Soc. Jpn. 79, pp.024003-021010 (2010)

    14. Quantum Levitation of Graphene Sheet by Repulsive Casimir Forces
      Norio Inui and Kouji Miura
      e-Journal of Surface Science and Nanotechnology, Vol. 8, pp.57-61 (2010).
      [eJSSNT Paper of The Year 2010, Gold Medal受賞論文]

    15. Casimir Forces between a Gold Sphere and a Thin Graphite Layer on Substrates
      Norio Inui
      e-Journal of Surface Science and Nanotechnology Vol. 8, pp.287-292 (2010)

    16. Enhanced surface sensitivity in SIMS analysis of organic thin films using size-selected Ar gas cluster ion projectile
      M. Tanaka, K. Moritani, T. Hirota, N. Toyoda, I. Yamada, N. Inui, K. Mochiji.
      Rapid Commun. Mass Spectrom., 24, 1405-1410, (2010).

    17. Molecular dynamics simulations of nanopore processing in a graphene sheet by using gas cluster ion beam
      Inui, N., Mochiji, K., Moritani, K., Nakashima, N.
      Appl. Phys. A: Materials Science and Processing, 98, 787-794, (2010).

    18. Kinetics of oxygen adsorption and initial oxidation on Cu(110) by hyperthermal oxygen molecular beams,
      K. Moritani, M. Okada, Y. Teraoka, A. Yoshigoe, T. Kasai
      J. Phys. Chem. A, 113, 15217-15222, (2009).

    19. Site-specific fragmentation of polystyrene using Ar gas cluster ion beam,
      Kousuke Moritani, Gen Mukai, Michihiro Hashinokuchi, Kozo Mochiji
      Appl. Phys. Express 2, 046001, (2009).

    20. Matrix-free detection of intact ions from proteins in argon-cluster SIMS,
      Kozo Mochiji, Michihiro Hashinokuchi, Kousuke Moritani, and Noriaki Toyoda,
      Rapid Commun. Mass Spectrom., 23, 648-652, (2009).

    21. New Design and Development of Size-Selected Gas Cluster SIMS
      Kousuke Moritani, Michihiro Hashinokuchi, Gen Mukai, Kozo Mochiji,
      IEEJ Trans. EIS, Vol. 129, No.2, 288-293 (2009).

    22. Analysis of Dynamic Sensing of Force Between a Probe and a Vibrating Sample for Purposes of Atomic Force Microscope
      N. Inui
      Sensors & Actuators: A. Physical 150, pp. 224-230 (2009).

    23. Preferential sputtering of DNA molecules on a graphite surface by Ar-cluster-ion beam,
      K. Moritani, S. Houzumi, K. Takeshima, N. Toyoda, K. Mochiji,
      J. Phys. Chem. C 112, 11357-11362 (2008)

    24. Casimir Energy of the Evanescent Field between Inhomogeneous Dielectric Slabs
      N. Inui
      J. Phys. Soc. Jpn. 77 (2008) pp. 084001-084009

    25. Actuation of a suspended nano-graphene sheet by impact with an argon cluster,
      Norio Inui, Kozo Mochiji and Kousuke Moritani,
      Nanotechnology 19, 505501, (2008).

    26. Secondary ion mass spectrometry using size-selected gas cluster ion beam,
      M. Hashinokuchi, K. Moritani, J. Nakagawa, T. Kashiwagi, N. Toyoda, K. Mochiji,
      J. Surf. Anal. vol.14, No4, pp.387-390, (2008).

    27. Extremely low energy projectiles for SIMS using size-selected gas cluster ions,
      K. Moritani, M. Hashinokuchi, J. Nakagawa, T. Kashiwagi, N. Toyoda, and K. Mochiji,
      Appl. Surf. Sci. 255, 948-950, (2008).

    28. Reconstruction of Cu(111) induced by a hyperthermal oxygen molecular beam,
      K. Moritani, M. Okada, Y. Teraoka, A. Yoshigoe, and T. Kasai,
      J. Phys. Chem. C 112, 8662-8667, (2008).

    29. Effects of Vibrational and Rotational Excitations on the Dissociative Adsorption of O2 on Cu Surfaces
      K. Moritani, M. Tsuda, Y. Teraoka, M. Okada, A. Yoshigoe, T.Fukuyama, T. Kasai, and H. Kasai,
      J. Phys, Chem. C 111, 9961-9967, (2007).

    30. Scanning tunneling microscope observation of plasmid DNA under electron irradiation at 8-40 eV,
      K. Mochiji, H. Hashimoto, Y. Tanaka, N. Ninomiya, and M. Takeo,
      Phys. Rev. B, 75, 094302, (2007).

    31. Electron and Ion-Induced Reactions of Organic Molecules Adsorbed on the Surfaces,
      K. Mochiji,
      IEEJ Trans. EIS, 127, 112-117 (2007).

    32. The effect of low energy electron irradiation to DNA molecules,
      H. Hashimoto and K. Mochiji,
      IEEJ Trans. EIS, 127, 192-197 (2007).

    33. Low-energy irradiation effects of gas cluster ion beams,
      S. Houzumi, K. Takeshima, K. Mochiji, N. Toyoda and I. Yamada,
      IEEJ Trans. EIS, 127, 312-316 (2007).

    34. Cluster size dependence of bombardment effects using mass-selected gas cluster ion beams,
      K. Nakamura, S. Houzumi, N. Toyoda, K. Mochiji, T. Mitamura and I. Yamada,
      Nucl. Instr. and Meth in Phys. Res B, 261, pp.660-663, (2007).

    35. Fluoride thin film formation with low optical absorption by gas cluster ion beam assisted deposition,
      S. Nakazawa, N. Toyoda, K. Mochiji, T. Mitamura and I. Yamada,
      Nucl. Instr. and Meth in Phys. Res B, 261, pp.656-659, (2007).

    36. Novel precision machining using gas cluster ion beams,
      N. Toyoda, S. Houzumi, T. Mashita, T. Mitamura, K. Mochiji, I. Yamada,
      Surf. Coatings Tech., 201, pp. 8624-8627, (2007).

    37. The azimuthal dependent oxidation process on Cu(110) by energetic oxygen molecules,
      K. Moritani, M. Okada, T. Fukuyama, Y. Teraoka, A. Yoshigoe, and T. Kasai,
      Eur. Phys. J. D, 38, 111-115 (2006).

    38. STM Observation of Graphite Surfaces Irradiated with Size Selected Ar Cluster Ion Beams,
      S. Houzumi, K. Mochiji, N. Toyoda, I. Yamada,
      Jpn. J. Appl. Phys.44, 6252-6254 (2005).

    39. Irradiation of silicon surface by Ar cluster ion beam: Cluster size effects,
      Y. Nakayama, S. Houzumi, N. Toyoda, K. Mochiji, T. Mitamura and I. Yamada,
      Nucl. Instr. and Meth in Phys. Res B, 241, pp.618-621, (2005).

    40. Development of pure O2 cluster ion beam assisted deposition system,
      T. Nose, S. Inoue, N. Toyoda, K. Mochiji, T. Mitamura, and I. Yamada,
      Nucl. Instr. and Meth in Phys. Res B, 241, pp.626-629, (2005).

    41. Electron-induced modification of ethylene molecules chemisorbed on Si(100) surface,
      T. Hasegawa, K. Mochiji, H. Imai and T. Mitamura, 
      Jpn. J. Appl. Phys. 44, 3222-3225 (2005).

    42. Reconstruction of Br-chemisorbed Si(111) surfaces under electron-stimulated desorption,
      K. Mochiji,
      Phys. Rev. B 67, 113314 (2003).

    43. Optimization of flux ratio of C60 molecule to Ar cluster ion for diamond-like carbon film deposition by NEXAFS measurement,
      K. Miyauchi, K. Kitagawa, N. Toyoda, S. Matsui, K. Mochiji, T. Mitamura and I.Yamada,
      Nucl. Instrum. Meth. B 206, 870-874 (2003).

    44. Reduction of surface roughness by Ta2O5 film formation with O2 cluster ion assisted deposition,
      Y. Fujiwara, N. Toyoda, K. Mochiji, T. Mitamura and I. Yamada, 
      Nucl. Instrum. Meth. B 206, 893-897 (2003).

    45. Electron-stimulated ion desorption from bromine-chemisorbed Si(111) surfaces,
      K. Mochiji and M. Ichikawa,
      Phys. Rev. B 63, 115407 (2001).

    46. Atomic structural changes of a Br-chemisorbed Si(111)-7x7 surface under 10 -150 eV electron impact,
      K. Mochiji and M. Ichikawa,
      Phys. Rev. B 62, 2029-2033 (2000).


    その他

    1. Characterization of B-K XANES peaks of BN thin film prepared by sputtering deposition
      M. Niibe, K. Miyamoto, K. Mochiji and T. Mitamura
      LASTI Annual Report, 2007 Vol.9, - (2008).
    2. Bias Voltage dependence of XANES spectra of a-CNx films prepared by reactive sputtering deposition
      K. Miyamoto, M. Niibe, T. Mitamura and K. Mochiji
      LASTI Annual Report, 2006 Vol.8, 97-98 (2007).


    学会発表(2006年~)  [2010]  [2009]  [2008]  [2007]  [2006]

    ・今後の発表予定

    主な学会のスケジュール (カレンダー)
    ---
    2010

    2009

    1. 11th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions at Seikei University (June 11, 2009, Tokyo)
      "Matrix-free detection of protein molecules by gas cluster SIMS"
      Shohei Oshima, Michihiro Hashinokuchi, Kousuke Moritani, Kozo Mochiji

    2. PN-04 ソフトイオン化SIMSの開発
      兵庫県大院工 ○持地広造  9月16日
      イノベーション・ジャパン2009 新技術説明会(東京、2009, 9.16-9.18)

    3. 1C30(招待講演)アルゴンクラスターSIMSによるタンパク質分子の非解離計測
      兵庫県大院工 ○持地広造 10月27日
      第29回表面科学学術講演会(東京、2009, 10.27-10.29)

    4. (招待講演)極低損傷二次イオン質量分析技術
      兵庫県大院工 ○持地広造 10月30日
      高分子表面研究会(有機デバイスの界面・表面)(東京、2009, 10.30)

    5. 10PD25(Invited) Soft-ionization SIMS by using size-selected argon cluster ion as a projectile
      Graduate School of Engineering, University of Hyogo ○K. Mochiji Dec. 10
      7th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices (Hawaii, 12.6-12.11, 2009)

    6. "Surface sensitive analysis of organic films using size-selected Ar gas cluster SIMS"
      ○Motohiro TANAKA, Kousuke MORITANI, Noriaki TOYODA and Kozo MOCHIJI  6月11日
      The International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions at Seikei University (SISS-11) (東京、2009,6.11-6.12)

    7. 10P-ZF-13 ガスクラスターSIMSを用いた有機薄膜の表面高感度分析
      兵庫県大院工 ○田中元裕, 盛谷浩右, 豊田紀章, 持地広造  9月10日
      2009年秋季 第70回応用物理学会学術講演会(富山、2009,9.8-9.11)

    8. 2P39S 低損傷SIMSによる有機薄膜の極浅表面分析
      兵庫県大院工 ○田中 元裕,盛谷 浩右, 豊田 紀章, 持地 広造  10月28日
      2009年 第29回表面科学学術講演会(東京、2009,10.27-10.29)

    9. 31p-ZR-6 アルゴンガスクラスタービームを用いたグラフェンシートの駆動に関するシミュレーション
      兵県大工 ○古川理人,乾 徳夫,持地広造,盛谷浩右 3月31日
      応用物理学会2009年度春季大会(筑波大学 3.31-4.2)

    10. 28aYH-10 アルゴンクラスターとグラフェンの衝突シミュレーション
      兵県大工 ○乾 徳夫,持地広造,盛谷浩右 3月28日
      日本物理学会64回年次年大会(立教大学 3.27-3.30)

    11. 25aZB-11 アルゴンガスクラスタービームによるナノ粒子層のスパッタリングに関する分子動力学シミュレーション
      兵県大工 ○乾 徳夫,持地広造,盛谷浩右,中嶋直樹 9月25日
      応用物理学会2009年度春季大会(熊本大学 9.25-9.28)

    12. 3F30 アルゴンクラスターとグラフェンの衝突シミュレーション
      兵県大工 ○乾 徳夫, 持地 広造, 盛谷 浩右, 中嶋 直樹
      第29回表面科学学術講演会(タワーホール船堀 10.27-10.29)

    13. 3E11 液中モード原子間力顕微鏡によるカシミール斥力の計測
      ○石川 誠, 乾 徳夫, 三浦 浩治
      第29回表面科学学術講演会(タワーホール船堀 10.27-10.29)

    14. カシミール効果で発生する斥力の数値解析
      乾 徳夫
      摩擦の科学2009(名古屋国際会館 12.3-5)

    15. グラフェンの引き剥がし過程およびカシミール斥力の観察
      ○石川 誠, 乾 徳夫, 佐々木 成,三浦 浩治
      摩擦の科学2009(名古屋国際会館 12.3-5)

    16. 1p-026 ガスクラスターイオンビームによるポリスチレン分子の結合選択的解離反応
      兵庫県大院工 ○盛谷浩右, 向井元, 橋之口道宏, 持地広造 5月13日

    17. 1p-027 ガスクラスターSIMSによるタンパク質分子イオンの検出
      兵庫県大院工 ○大嶋渉平,橋之口道宏,盛谷浩右,豊田紀章,持地広造 5月13日

      以上、2009年 第57回質量分析総合討論会(大阪、2009, 5.13-5.15)

    18. 1a-TD-3 Si(111)表面上でのNO 解離吸着過程における立体効果の解明
      阪大リノベーション1,阪大院理2,JSTさきがけ3,兵庫県立大4,原子力機構5 ○橋之口道宏1,岡田美智雄1,2,3,伊藤裕規2,笠井俊夫1,2,盛谷浩右4,寺岡有殿5 4月1日 TD 6.5

    19. 1a-D-3 サイズ選別されたガスクラスターイオンの照射によるポリスチレンの結合指定解離
      兵庫県大院工 ○盛谷浩右,向井 元,橋之口道宏,持地広造 4月1日 D 7.5

    20. 31p-ZR-6 アルゴンガスクラスタービームを用いたグラフェンシートの駆動に関するシミュレーション
      兵庫県大院工 ○古川理人,乾 徳夫,持地広造,盛谷浩右 3月31日 ZR 7.8

    21. 31p-F-1 アルゴンクラスターSIMSによるタンパク質分子イオンの検出
      兵庫県大院工 ○大嶋渉平,盛谷浩右,橋之口道宏,豊田紀章,持地広造 3月31日 F 12.10

      以上、2009年春季 第56回応用物理学関係連合講演会(筑波大学(茨城)、2009, 3.31-4.2)

    22. [招待講演] ガスクラスターSIMSによるタンパク質分子イオンの検出
      盛谷浩右
      第9回 クラスターイオンビームテクノロジーワークショップ(産総研(東京)、2009, 3.11-12)

    2008

    1. ガスクラスターSIMSの開発と生体分子への応用
      持地広造、橋之口道宏、盛谷浩右、豊田紀章、
      第9回「イオンビームによる表面・界面解析」特別研究会(12月、高知工科大学)
    2. [招待講演] ガスクラスターSIMSの開発と生体分子への応用
      持地広造、
      2008年度SIMS新技術拡大研究会(11月、成蹊大学)
    3. ガスクラスターイオンを用いたSIMSの開発とポリペプチドへの応用
      橋之口道宏、盛谷浩右、持地広造
      第49回真空に関する連合講演会, (くにびきメッセ(島根)、2008, 10月28-31日)
    4. ガスクラスターイオンを用いた極低損傷SIMSの開発
      盛谷 浩右、橋之口 道宏、向井 元、持地 広造
      兵庫県立大シンポジウム, (姫路、2008, 9月22日)
    5. ガスクラスターイオンを利用した極低損傷SIMS
      持地広造
      イノベーション・ジャパン 2008 - 大学見本市, (東京国際フォーラム(東京)、2008, 9月16-18日)
    6. サイズ選別型ガスクラスターイオンビームを用いたポリスチレンの二次イオン質量分析
      向井元、橋之口道宏、盛谷浩右、持地広造
      第69回応用物理学会学術講演会, (中部大学(愛知)、2008, 9月)
    7. 【invited】Extremely low damage SIMS by using size-selected gas cluster ion beam,
      Kozo Mochiji, Kousuke Moritani, Michihiro Hashinokuchi, Noriaki Toyoda,
      20th International Conference on the Application of Accelerators in Research and Indusry (Texas, August 2008)
    8. Extremely low energy sputtering induced by gas cluster ions and its application to SIMS,
      Kozo Mochiji, Kousuke Moritani, Michihiro Hashinokuchi, Noriaki Toyoda,
      11th Symposium on Surface Physics, European Physical Society, (Prague, June 2008)
    9. 巨大ガスクラスターイオン照射によるポリペプチドの2次イオン質量分析
      橋之口道宏、有田欣生、盛谷浩右、持地広造
      第56回 質量分析総合討論会, 2P-25, (つくば, 2008, 5月)
    10. サイズ選別型ガスクラスターSIMSの開発
      盛谷浩右、向井元、橋之口道宏、持地広造
      第56回 質量分析総合討論会, 2P-27, (つくば, 2008, 5月)
    11. スパッタ法で作製したBN薄膜のNEXAFSピークの同定
      新部正人,宮本和佳,持地広造
      第69回分析化学討論会 講演要旨集, p.144, G2011 (名古屋国際会議場, 2008, 5月15-16日)
    12. ガスクラスターイオンビーム照射によるポリメタクリル酸メチルからの二次イオン放出
      向井元、橋之口道宏、盛谷浩右、持地広造
      第55回 応用物理学関係連合講演会, 29p-ZL-16 (日大(千葉), 2008, 3月)
    13. ガスクラスターイオン照射によるポリペプチドの2次イオン質量分析
      橋之口道宏、有田欣生、盛谷浩右、持地広造
      第55回 応用物理学関係連合講演会, 29p-ZL-17 (日大(千葉), 2008, 3月)
    14. 巨大クラスターイオンを用いた二次イオン質量分析法
      盛谷浩右
      第六回 量子ビームによるナノバイオ科学と基盤技術調査専門委員会(電気学会),  (2008, 1月)
    15. スパッタ法で作製したBN薄膜のNEXAFSピークの同定
      宮本和佳,新部正人,三田村徹,古井田啓吾,持地広造
      先端技術セミナー2008,(イーグレ姫路, 2008, 3.7)

    16. スパッタ法で作製したBN薄膜のNEXAFSピークの同定
      宮本和佳,新部正人,角谷幸信,三田村徹,持地広造
      第21回日本放射光学会年会, 予稿集, p.112, 14P030 (2008, 1月).

    17. 放射光によるPTFE直接微細加工の機構推測
      山本成明、浮田芳昭、岸原充佳、持地広造、内海裕一
      第22回 エレクトロニクス実装学会講演大会, (2008, 3月)

    18. Property of In-vacuum Direct Photo-etching of PTFE Brought by High Energy Synchrotron Radiation Irradiation
      Shigeaki Yamamoto, Yoshiaki Ukita, Kozo Mochiji, and Yuichi Utsumi
      The 52rd International conference on Electron, Ion, And Photon Beam Technolog and Nanofabrication, (2008, 5月)

    2007

    1. The preferential sputtering of DNA molecule on HOPG surface by the Ar cluster ion beam
      K. Moritani, S. Houzumi, K. Takeshima, K. Mochiji, and N. Toyoda
      44th IUVSTA Workshop - Sputtering and Ion Emission by Cluster Ion Beams, P2, (Scotland (UK), 2007, Apr.)
    2. Material specific sputtering for TOF-SIMS sby using gas cluster ion beam
      K. Moritani, S. Houzumi, K. Takeshima, N. Toyoda, K. Mochiji
      SIMS XVI, P1-042 (P-CLU-06), (Kanazawa, 2007, Nov.)
    3. Secondary ion mass spectrometry using size-selected gas cluster ion beam
      M. Hashinokuchi, K. Moritani, G. Mukai, Y. Tanaka, N. Toyoda, K. Mochiji, T.Kashiwagi,* J.Nakagawa*
      4th international Symposium on Practical Surface Analysis, P40, (Kanzawa, 2007, Nov.)
    4. BEAM CHARACTERISTICS OF GAS CLUSTER ION BEAM AND INFLUENCE ON IRRADIATION EFFECTS
      Y. Maeshima, N. Toyoda, K. Mochiji, I. Yamada
      9th European Conference on Accelerators in Applied Research and Technology (Florence, Italy, 2007, Sep.)
    5. Effect of the internal excited states of oxygen molecule in the dissociative adsorption processes on Cu surfaces
      K. Moritani, M. Okada, Y. Teraoka, A. Yoshigoe, T. Kasai
      The 3rd International Workshop on oxidation Reactions, (Osaka, 2007, May)
    6. サイズ選別型ガスクラスターSIMSの開発(I)
      盛谷浩右,橋之口道宏,豊田紀章,持地廣造,柏木隆宏,中川潤
      第68回応用物理学会学術講演会, 4a-W-6, (北海道工大(札幌), 2007, 9月)
    7. サイズ選別したガスクラスターイオンビームによる二次イオン計測
      向井 元, 橋之口 道宏, 盛谷 浩右, 豊田 紀章, 持地 広造
      第27回表面科学講演大会, P30S (2007 11月)
    8. ジドデシルベンゼン吸着状態のSTM観察
      田中 悠太, 盛谷 浩右, 橋之口 道宏, 持地 広造
      第27回表面科学講演大会, P60 (2007 11月)
    9. ガスクラスターイオン・残留ガス衝突によるエネルギーロス測定
      前嶋佑輝、豊田紀章、持地広造、三田村徹、山田公
      第54回応用物理学関係連合講演会, 28p-ZV-1(神奈川, 2007, 3月)
    10. スパッタ法とイオンビーム援用法で作製したBNx薄膜のNEXAFSによる構造評価
      宮本和佳,新部正人,冷波,内田仁,三田村徹,持地広造
      第68回応用物理学会学術講演会, 予稿集, p.606 (2007, 9月).

    11. スパッタ法によるa-CNx薄膜のNEXAFSスペクトルのバイアス電圧依存性
      宮本和佳,新部正人,角谷幸信,三田村徹,持地広造
      第54回応用物理学会関連連合講演会, 予稿集, p.637 (2007, 9月).

    12. 放射光刺激エッチングによるPTFEの高アスペクト比微細加工
      山本成明、浮田芳昭、岸原充佳、持地広造、内海裕一
      第21回 エレクトロニクス実装学会講演大会, (2007, 3月)

    13. Si(111)表面上でのNO解離吸着過程における分子配向効果の解明
      橋之口道宏,岡田美智雄,盛谷浩右,寺岡有殿,笠井俊夫
      第54回応用物理学会学術講演会 28p-C-4 (神奈川, 2007, 3月28日)

    2006

    1. DNAへのガスクラスターイオンビーム照射効果
      竹嶋圭吾、寳角真吾、盛谷浩右、田中悠太、持地広造
      第67回応用物理学会学術講演会講演予稿集, 31ak8 (2006)
    2. 環状DNAの低エネルギー電子照射効果
      持地広造、橋本英幸、二宮直樹、田中悠太
      第67回応用物理学会学術講演会講演予稿集, 31ak7 (2006)
    3. DNAへの電子線照射効果
      二宮直樹、田中悠太、盛谷浩右、持地広造
      第26回表面科学講演大会講演予稿集,1B11 (2006)
    4. ガスクラスターイオンビーム援用蒸着法による低吸収フッ化物薄膜の作成
      中澤彰吾、能勢智之、豊田紀章、持地広造、三田村徹、山田公
      第53回応用物理学関係連合講演会講演予稿集,23p-F-2 (2006)
    5. Fluoride thin film formation with low optical absorption by gas cluster ion beam assisted deposition
      S. Nakazawa, N. Toyoda, K. Mochiji, T. Mitamura, I. Yamada
      19th International Conference on the Application of Accelerators in Research and Industry (2006)
    6. マイクロビームX線反射率法によるAr-GCIB援用DLC薄膜の密度測定
      中澤彰吾、豊田紀章、松井 純爾、津坂佳幸、福田一徳、持地広造、三田村徹、山田公
      第67回応用物理学関係連合講演会講演予稿集,30a-W-7 (2006)
    7. Fluoride thin film formation with low optical absorption by gas cluster ion beam assisted deposition
      S. Nakazawa, N. Toyoda, K. Mochiji, T. Mitamura, I. Yamada
      7th WorkShop on cluster ion beam and advanced quantum beam process technology (2006)
    8. ガスクラスターイオンビームによるスパッタ率のクラスターサイズ依存性
      中村和寛、中山優樹、豊田紀章、持地広造、三田村徹、山田公
      第53回応用物理学関係連合講演会講演予稿集,22a-F-9 (2006)
    9. 斜入射ガスクラスターイオンビーム照射におけるクラスターサイズ依存性
      中村和寛、前嶋佑輝、豊田紀章、持地広造、三田村徹、山田公
      第67回応用物理学会学術講演会講演予稿集,29a-K-7 (2006)
    10. Cluster size dependences of bombardment effects using mass-selected Gas Cluster Ion Beams
      K.Nakamura, S.Houzumi, N.Toyoda, K.Motiji, T.Mitamura, I. Yamada
      19th International Conference on the Application of Accelerators in Research and Industry, (Fort Worth, Texas USA 2006)
    11. Cluster size dependences of bombardment effects using mass-selected gas cluster ion beams
      K.Nakamura, N.Toyoda, I.Yamada
      7th workshop on Cluster ion beam and Advanced quantum beam process technology (Tokyo, 2006)
    12. ガスクラスターイオンビームの電荷、エネルギー分布、質量の測定
      前嶋佑輝 中村和寛 持地広造 豊田紀章 三田村徹 山田公
      2006年春季 第53回応用物理学関係連合講演会講演予稿集,23a-F-8 (2006)
    13. ガスクラスターイオンビームのエネルギー及び、速度の真空度依存性
      前嶋佑輝 中村和寛 持地広造 豊田紀章 三田村徹 山田公
      第67回応用物理学会学術講演会講演予稿集,29a-K- 8 (2006)
    14. Beam characteristics (energy and velocity) of size selected cluster ion beam irradiation system
      Y. Maeshima N. Toyoda K. Moritani K. Mochiji I. Yamada
      7th WORKSHOP ON CLUSTER ION BEAM AND ADVANCED QUANTUM BEAM PROCESS TECHNOLOGY (2006)
    15. スパッタ法によるa-CNx薄膜のNEXAFSスペクトルのガス圧依存性
      新部正人、宮本和佳、三田村徹、角谷幸信、持地広造
      第67回応用物理学会学術講演会予稿集, 30a-W-4(2006)
    16. 超熱酸素分子ビームによる銅表面酸化過程の研究
      盛谷浩右
      兵庫県立大学 第2回放射光材料研究セミナー, (2006)
    17. Effect of the internal excited states of oxygen molecule in the dissociative adsorption processes on Cu surfaces
      K. Moritani, Y. Teraoka, M. Okada, A. Yoshigoe, T. Kasai
      The 10th ISSP International symposium (ISSP-10) on Nanoscience at surfaces, P-026 (2006)
    18. LEED and XPS study of the oxygen-molecular beam induced reconstruction on Cu(111)
      K. Moritani, M. Okada, Y. Teraoka, A. Yoshigoe, T. Kasai
      The 2nd International Workshop on oxidation Reactions, (2006)