電気物性工学専攻の森英喜助教が、2018年6月21日~6月22日に開催された国際会議の「The 2018 International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai」(IMFEDK2018)でThe IEEE EDS Kansai Chapter IMFEDK Best Paper Awardsを受賞しました。
論文タイトル:Microscopic Imaging of Inversion Layer Formation in Insulator/Semiconductor Structure by Scanning Capacitance Transient Microscopy
(著者:森 英喜、吉田 晴彦)