| 氏名 | 森 英喜 | |
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| フリガナ | モリ ヒデノブ | |
| 所属 | 大学院 | 電気系工学専攻 / 物性・デバイス工学部門 |
| 学部 | 電子情報電気工学科 / 電子素子‐回路コース | |
| 研究グループ | 電子物性研究グループ | |
| 連絡 | TEL | 079-267-4875 |
| FAX | 079-267-4875 | |
| 役職 | 助教 | |
| 学位 | 博士（工学） | |
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| 担当 科目 |
大学院 | 電気系工学特別実験B、電気系工学特別演習B |
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| 学部 | 電気回路演習、電気系実験 I | |
| 専門分野 | 電子物性、半導体デバイス | |
| 研究内容 | 半導体デバイスの放射線照射効果 | |
| 所属学会 |
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| 最近の研究業績 | "MODELING OF THE TRANSIENT CHARGE COLLECTION INCUDED BY AN ANGLED SINGLE ION STRIKE", H. Mori, T. Hirao, J. S. Laird, S. Onoda, T. Wakasa, T. Yamakawa, H. Abe, H. Itoh, T. Okamoto and Y. Koizumi, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B 206, 31, 2003 | |
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